磁芯损耗测量方法主要分为直接测量法（基于磁滞回线）和间接测量法（基于电参数推导）两大类，共 4 种主流技术，需根据频率、精度和测试对象选择。

一、直接测量法（精度高，需专用设备）

       直接通过绘制 B-H 磁滞回线，以回线面积计算单位体积的磁芯损耗，适合磁芯材料本身的特性分析。

1、B-H 分析仪法

       原理：给磁芯的励磁绕组通交变电流（产生磁场强度 H），在测量绕组感应电压（积分得到磁通密度 B），实时绘制 B-H 曲线。

       适用场景：低频至中频（通常 < 1MHz），如铁氧体、硅钢片等磁芯材料的损耗研发测试。

       特点：精度高（误差 ±1% 以内），可同时输出磁导率、剩磁等多参数，数据直观。

2、冲击检流计法

       原理：利用冲击检流计测量磁通量的瞬时变化，逐点记录 H 和 B 的值，手动或半自动绘制 B-H 回线。

       适用场景：超低频（<1kHz）或直流磁特性测试，如研究磁芯的静态磁滞损耗。

       特点：属于经典方法，操作繁琐、耗时久，目前已逐步被 B-H 分析仪取代。

二、间接测量法（操作简，适合快速测试）

       不直接绘制 B-H 回线，通过测量含磁芯元件的电参数（如功率、电压、电流），间接分离出磁芯损耗，适合成品元件的效率验证。

1、功率计法

       原理：用交流功率计测量含磁芯电感 / 变压器的总输入功率，减去线圈的铜损（通过电流和线圈电阻计算，即 I²R），剩余部分即为磁芯损耗。

       适用场景：工频至高频（<100MHz），如开关电源电感、变压器成品的损耗抽检。

       特点：无需专用磁芯夹具，操作快速，适合生产线或实验室的批量测试。

2、脉冲法

       原理：用脉冲信号发生器给磁芯通瞬态电流，通过示波器捕捉电压和电流波形，计算单次脉冲的能量变化量，进而得到磁芯损耗。

       适用场景：高频（>1MHz 至 GHz 级）或瞬态大信号场景，如射频磁芯、高频开关电源磁芯的动态损耗测试。

       特点：能避免高频下趋肤效应、铜损过大的干扰，可模拟磁芯实际工作状态。