磁芯损耗测量的直接测量法和间接测量法各有 2 种主流类型，直接法精度高、侧重材料特性，间接法操作简、侧重元件测试。

一、直接测量法（基于磁滞回线，精度高）

       直接通过绘制 B-H 磁滞回线，以回线面积计算磁芯损耗，适合分析磁芯材料本身特性。

1.B-H 分析仪法

       原理：给磁芯励磁绕组通交变电流产生 H，测量绕组感应电压积分得到 B，实时绘制 B-H 曲线并计算损耗。

       适用场景：低频至中频（<1MHz），如铁氧体、硅钢片等材料的研发和特性检测。

2.冲击检流计法

       原理：利用冲击检流计测量磁通量瞬时变化，逐点记录 H 和 B 值，手动绘制 B-H 回线。

       适用场景：超低频（<1kHz）静态磁滞损耗测试，操作繁琐，已逐步被 B-H 分析仪取代。

二、间接测量法（基于电参数推导，效率高）

       不直接绘制 B-H 回线，通过测量电参数间接分离磁芯损耗，适合成品元件快速测试。

1.功率计法

       原理：用功率计测含磁芯元件总功率，减去线圈铜损（I²R），得到磁芯损耗。

       适用场景：工频至高频（<100MHz），如电感、变压器成品的批量抽检。

2.脉冲法

       原理：脉冲信号发生器给磁芯通瞬态电流，示波器捕捉电压电流波形，计算能量变化量得到损耗。

       适用场景：高频（>1MHz 至 GHz 级）或瞬态场景，如高频开关电源磁芯的动态损耗测试。